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Forschungsstelle
INNOSUISSE
Projektnummer
12874.1;11 PFNM-NM
Projekttitel
Advanced localized nano-characterization of wafer fused-VCSELs for device failure analysis
Projekttitel Englisch
Advanced localized nano-characterization of wafer fused-VCSELs for device failure analysis
Projektstatus Abgeschlossen
 
Startdatum 01.04.2012
Endedatum 06.02.2015
 
Gesamtkosten bewilligt 400'000.00  CHF
Bereich 22 Förderbereich Nano / Micro
Proj. Kategorie Projekt
Forschungsart Angewandte Forschung und Entwicklung
NABS-Klassifikation Nicht aufteilbare / nicht zuteilbare Forschung
 
Fachbereiche
100 % Noch nicht erfasst
Letzte Änderung Projekt
27.11.2014