Advanced localized nano-characterization of wafer fused-VCSELs for device failure analysis

Forschungsstelle

INNOSUISSE

Projektnummer

12874.1;11 PFNM-NM

Projekttitel

Advanced localized nano-characterization of wafer fused-VCSELs for device failure analysis

Projekttitel Englisch

Advanced localized nano-characterization of wafer fused-VCSELs for device failure analysis

Beteiligte
Bundesstelle/ Verwaltungseinheit	Innosuisse Schweizerische Agentur für Innovationsförderung Einsteinstrasse 2 CH-3003 Bern +41 58 461 61 61 (Zentrale) info@innosuisse.ch www.innosuisse.ch/

Kontaktperson

Prof.
Eli Kapon
Swiss Federal Institute of Technolo
EPFL
PH D3 425 BAT.PH, STATION 3
CH-1015 Lausanne
eli.kapon@epfl.ch

Beteiligte