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Forschungsstelle
INNOSUISSE
Projektnummer
17140.1 PFNM-NM
Projekttitel
A caesium deposition system for FIB-SIMS chemical imaging
Projekttitel Englisch
A caesium deposition system for FIB-SIMS chemical imaging

Texte zu diesem Projekt
 DeutschFranzösischItalienischEnglisch
Kurzbeschreibung
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Abstract
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Erfasste Texte


KategorieText
Kurzbeschreibung
(Deutsch)
A caesium deposition system for FIB-SIMS chemical imaging
Kurzbeschreibung
(Englisch)
A caesium deposition system for FIB-SIMS chemical imaging
Abstract
(Deutsch)
The project will bring to commercial readiness a device to greatly increase the magnitude of signals from a secondary ion mass spectrometer mounted on a focused ion beam microscope. This will be achieved by depositing a layer of caesium on the sample within the vacuum system as measurements are carried out. Increased sensitivity  will enhance the sales of Tofwerk's existing FIB-SIMS product for chemical imaging at nano scales in three dimensions.
Abstract
(Englisch)