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Forschungsstelle
INNOSUISSE
Projektnummer
17033.1;4 INNO13-16-IW
Projekttitel
High Throughput Power Semiconductor Dynamic Testing Methodology utilizing Self-Heating Principles

Texte zu diesem Projekt
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Kurzbeschreibung
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Kurzbeschreibung
(Französisch)
High Throughput Power Semiconductor Dynamic Testing Methodology utilizing Self-Heating Principles