Fourier transformed atomic force microscopy for the rapid determination of surface properties with nanometer resolution (FT-SPM)

Forschungsstelle

INNOSUISSE

Projektnummer

6351.1;7 KTS-NM

Projekttitel

Fourier transformed atomic force microscopy for the rapid determination of surface properties with nanometer resolution (FT-SPM)

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Kurzbeschreibung (Deutsch)	Fourier transformed atomic force microscopy for the rapid determination of surface properties with nanometer resolution (FT-SPM)