Fourier transformed atomic force microscopy for the rapid determination of surface properties with nanometer resolution (FT-SPM)

Forschungsstelle

INNOSUISSE

Projektnummer

6351.1;7 KTS-NM

Projekttitel

Fourier transformed atomic force microscopy for the rapid determination of surface properties with nanometer resolution (FT-SPM)

Beteiligte
Bundesstelle/ Verwaltungseinheit	Innosuisse Schweizerische Agentur für Innovationsförderung Einsteinstrasse 2 CH-3003 Bern +41 58 461 61 61 (Zentrale) info@innosuisse.ch www.innosuisse.ch/

Kontaktperson

Prof. Dr.
Andreas Stemmer
ETH Zürich
ETH-Zentrum CLA J 13
CH-8092 Zürich
01 632 45 72
stemmer@nano.mavt.ethz

Beteiligte