Dedicated Electrochemical Atomic Force Microscopy (DEAFM) ¿ a method to measure local chemical processes in the nanometer range.

Unité de recherche

INNOSUISSE

Numéro de projet

13696.1;5 PFFLR-IW

Titre du projet

Dedicated Electrochemical Atomic Force Microscopy (DEAFM) ¿ a method to measure local chemical processes in the nanometer range.

Titre du projet anglais

Dedicated Electrochemical Atomic Force Microscopy (DEAFM) ¿ a method to measure local chemical processes in the nanometer range.

Etat du projet	Terminé

Date de début	01.03.2012
Date de fin	11.11.2015

Coûts totaux approuvés	751'634.00 CHF
Domaine	5 CTI
Catégorie de projet	Projet
Type de recherche	Recherche appliquée et développement
Code NABS	Recherches non ventilées / non attribuables

Disciplines/domaines	100 % T150 Technologie de matériaux

Dernière modification du projet 27.11.2014