Optimierung der Zuverlässigkeit von EEPROM-Speichermodulen für Low Power ASIC-Anwendungen

Forschungsstelle

INNOSUISSE

Projektnummer

2493.1;3 MJK

Projekttitel

Optimierung der Zuverlässigkeit von EEPROM-Speichermodulen für Low Power ASIC-Anwendungen

Texte zu diesem Projekt

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Kurzbeschreibung (Deutsch)	Optimierung der Zuverlässigkeit von EEPROM-Speichermodulen für Low Power ASIC-Anwendungen