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Unité de recherche
INNOSUISSE
Numéro de projet
42449.1 IP-ENG
Titre du projet
ThreeFree
Titre du projet anglais
ThreeFree

Textes relatifs à ce projet

 AllemandFrançaisItalienAnglais
Description succincte
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Résumé des résultats (Abstract)
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Textes saisis


CatégorieTexte
Description succincte
(Allemand)
ThreeFree
Description succincte
(Anglais)
Development of next generation drift FREE high vacuum gauges with lead FREE, stress FREE joining process
Résumé des résultats (Abstract)
(Allemand)
The goal is to develop drift free and stress free ceramic capacitance diaphragm gauges with lead free glass sealing and even better performance than today's state of the art for their core business customers in the semiconductor processing industries, in particular for dry etching processes.