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Research unit
INNOSUISSE
Project number
35614.1 IP-ENG
Project title
High-resolution layer thickness measurement in transparent foils

Texts for this project
 GermanFrenchItalianEnglish
Short description
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Abstract
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Inserted texts


CategoryText
Short description
(German)
Hochauflösende Schichtdickenmessung in transparenten Folien
Short description
(English)
High-resolution layer thickness measurement in transparent foils
Abstract
(German)
Zur Schichtdickenmessung der inneren Struktur transparenter Folien wird ein hochauflösendes Spectral-Domain OCT Messgerät entwickelt. Die geforderte axiale Auflösung im Mikrometerbereich wird mit einer ultra-breitbandigen Laserquelle und einem eigen entwickelten Spektrometer erreicht.
Abstract
(English)