Die zweite Phase des Round Robin Converter Tests hat gezeigt, dass das Uniform Testing Protocol (UTP) eine zuverlässige Prüfmethode für Umrichterverluste darstellt, die hochgradig wiederholbare Ergebnisse liefert. Die Messungen aus verschiedenen Laboren weltweit bestätigten eine hohe Übereinstimmung und trugen zur Beseitigung von Unklarheiten in der IEC 61800-9-2 Revision 2 bei.
Ein zentrales Ergebnis der Untersuchung war, dass fast alle getesteten Umrichter in die höchste Effizienzklasse (IE2) fallen. Dies zeigt, dass bereits marktfähige Umrichter eine hohe Effizienz aufweisen, wodurch die Einführung weiterer Effizienzklassen möglicherweise nicht notwendig ist. Allerdings wurde festgestellt, dass die Korrekturfaktoren für Umrichter mit zusätzlichen Funktionen zu einer übermässigen Kompensation von Verlusten führen können. Dies könnte dazu führen, dass ein Umrichter mit Ausgangsfilter in eine höhere Effizienzklasse eingestuft wird.
Die Ergebnisse bekräftigen die Notwendigkeit einer klaren Definition von Mindestanforderungen (MEPS) für Umrichter sowie einer verbesserten Transparenz bei Herstellerangaben zur Effizienz im Teillastbetrieb.
Die Untersuchung von Silizium-Karbid (SiC)-Wechselrichtern zeigt vielversprechende Effizienzsteigerungen durch höhere Schaltfrequenzen, jedoch nur bis zu einem bestimmten Punkt. Während die Reduzierung der Stromharmonischen Motorverluste verringert, dominieren bei zu hohen Schaltfrequenzen die Schaltverluste des Umrichters, sodass der Gesamtwirkungsgrad wieder sinkt.
Die Untersuchungen zu Teilentladungen (PD) haben bestätigt, dass SiC-Umrichter aufgrund steilerer Spannungsflanken höhere Überspannungen an Motoranschlüssen erzeugen können. Dies kann zu einer beschleunigten Alterung der Wicklungsisolation führen, insbesondere wenn bestehende Umrichter ohne Anpassungen ersetzt werden. Zudem wurde eine Erhöhung der Lagerströme beobachtet, wobei deren Auswirkungen stark vom Lagertyp und den Betriebsbedingungen abhängen.
Trotz der theoretischen Vorteile der SiC-Technologie ergaben die Langzeittests Probleme mit der Zuverlässigkeit der zur Verfügung stehenden Umrichter, was weitere Forschungsarbeiten zur Robustheit und industriellen Anwendbarkeit von Wide Bandgap (WBG)-Halbleitern rechtfertigt. Die Entwicklung einer umfassenden Forschungs-Roadmap stellt einen wichtigen Schritt dar, um offene Fragen zur Einführung und Optimierung von WBG-Technologien in industriellen Antrieben zu klären.