Titel
Accueil
Navigation principale
Contenu
Recherche
Aide
Fonte
Standard
Gras
Identifiant
Interrompre la session?
Une session sous le nom de
InternetUser
est en cours.
Souhaitez-vous vraiment vous déconnecter?
Interrompre la session?
Une session sous le nom de
InternetUser
est en cours.
Souhaitez-vous vraiment vous déconnecter?
Accueil
Plus de données
Partenaires
Aide
Mentions légales
D
F
E
La recherche est en cours.
Interrompre la recherche
Recherche de projets
Projet actuel
Projets récents
Graphiques
Identifiant
Titel
Titel
Unité de recherche
COST
Numéro de projet
C10.0134
Titre du projet
HIPIMS for nanocomposite coatings
Titre du projet anglais
HIPIMS for nanocomposite coatings
Données de base
Textes
Participants
Titel
Textes relatifs à ce projet
Allemand
Français
Italien
Anglais
Mots-clé
-
-
-
Programme de recherche
-
-
-
Description succincte
-
-
-
Autres indications
-
-
-
Partenaires et organisations internationales
-
-
-
Résumé des résultats (Abstract)
-
-
-
Références bases de données
-
-
-
Textes saisis
Catégorie
Texte
Mots-clé
(Anglais)
HIPIMS; sputtering; thin films; nanocomposites
Programme de recherche
(Anglais)
COST-Action MP0804 - Highly Ionised Pulse Plasma Processes
Description succincte
(Anglais)
See abstract
Autres indications
(Anglais)
Full name of research-institution/enterprise: Eidg. Materialprüfungs- und Forschungsanstalt EMPA General Chair ICMCTF 2009 Editor Surface & Coating Technology, Group Leader Thin Films
Partenaires et organisations internationales
(Anglais)
AT, BE, CH, DE, DK, EL, ES, FI, FR, IE, IS, LT, NL, PL, PT, SE, TR, UK
Résumé des résultats (Abstract)
(Anglais)
In the course of this project a variant of the standard HiPIMS process was developed (termed 'chopped HiPIMS'), and its benefits with respect to inceased deposition rate and improved morphology was shown. The technique was used to prepare coatings of metallic titanuim and of TiN. The Ti coatings proved to be much denser and showed lower droplet density than those prepared by standard HiPIMS. Two Short Term Scientific Missions (STSM) combined the competencies of foreign labs and our to yield valuable results for the understanding of the HiPIMS process and the filmns repared by them. A comparison was made between Al-Si-N layers deposited by (standard) HiPIMS and by DCMS, which showed that HiPIMS is capable of preparing denser and harder coatings. The project led to two new projects involving HiPIMS for the deposition of improved coatings to be used in industrial applications (coatings for precision glass moulding and for biomedical applications). Another project addressing some fundamental questions related to oxynitride coatings by HiPIMS is about to start. This succesful COST project opened the way for our laoratory to new routes in thin films deposition and understanding of the processes to prepare them.
Références bases de données
(Anglais)
Swiss Database: COST-DB of the State Secretariat for Education and Research Hallwylstrasse 4 CH-3003 Berne, Switzerland Tel. +41 31 322 74 82 Swiss Project-Number: C10.0134
SEFRI
- Einsteinstrasse 2 - 3003 Berne -
Mentions légales