Produktion und Zuverlässigkeit von Mikrovias in Leiterplatten

• Unité de recherche: INNOSUISSE
• Numéro de projet: 9516.1;4 PFNM-NM
• Titre du projet anglais: Produktion und Zuverlässigkeit von Mikrovias in Leiterplatten

Description succincte (Allemand)

Produktion und Zuverlässigkeit von Mikrovias in Leiterplatten

Description succincte (Anglais)

Produktion und Zuverlässigkeit von Mikrovias in Leiterplatten

Résumé des résultats (Abstract) (Allemand)

In der Miniaturisierung der Leiterplatten bieten die vertikalen Verbindungen zwischen den Lagen, die Vias, Probleme in der Konstanz der Metallisierungsschichten, der Langzeitzuverlässigkeit und in den Testmethoden für die Integrität nach der Produktion. Themen des Projekts:- Entwicklung einer Anlage zur Qualifikation von Vias, die die zerstörungsfreien Überprüfung der Integrität von Vias sowie beschleunigte Alterungstests beinhaltet.-Zusammenhänge zwischen den Eigenschaften der Metallisierung und deren Degradationsverhalten.-Parameter für beschleunigte Alterungstests und deren Korrelation mit Feldbedingungen.