Thickness measurement- and surface inspection system based on infrared Technology

• Unité de recherche: INNOSUISSE
• Numéro de projet: 9041.2;5 PFNM-NM
• Titre du projet anglais: Thickness measurement- and surface inspection system based on infrared Technology

Description succincte (Allemand)

Signalanalyseverfahren für berührungslose, Infrarotsensor-basierte Schichtsystemcharakterisierung

Description succincte (Anglais)

Thickness measurement- and surface inspection system based on infrared Technology

Résumé des résultats (Abstract) (Allemand)

Das Projekt befasst sich mit der Entwicklung von neuartigen Verfahren zur Analyse von zeitlich und örtlich aufgelösten Signalen eines Infrarot-Messsystems. Das physikalische Modell für ein Messgerät zur Cha-rakterisierung von Schichtsystemen soll erweitert und vertieft, neue Algorithmen zur Auswertung ent-wickelt und der Messprozess fokussiert auf die Industrieanforderungen ausgelegt werden.Aus den Messdaten will man die Dicke individueller Schichten ableiten sowie Aussagen über Stoffdaten und Schichtqualität machen können.