Thickness measurement- and surface inspection system based on infrared Technology - Texts

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Research unit

INNOSUISSE

Project number

9041.2;5 PFNM-NM

Project title

Thickness measurement- and surface inspection system based on infrared Technology

Texts for this project

	German	French	Italian	English
Short description		-	-
Abstract		-	-	-

Inserted texts

Category	Text
Short description (German)	Signalanalyseverfahren für berührungslose, Infrarotsensor-basierte Schichtsystemcharakterisierung
Short description (English)	Thickness measurement- and surface inspection system based on infrared Technology
Abstract (German)	Das Projekt befasst sich mit der Entwicklung von neuartigen Verfahren zur Analyse von zeitlich und örtlich aufgelösten Signalen eines Infrarot-Messsystems. Das physikalische Modell für ein Messgerät zur Cha-rakterisierung von Schichtsystemen soll erweitert und vertieft, neue Algorithmen zur Auswertung ent-wickelt und der Messprozess fokussiert auf die Industrieanforderungen ausgelegt werden.Aus den Messdaten will man die Dicke individueller Schichten ableiten sowie Aussagen über Stoffdaten und Schichtqualität machen können.