Contact-Less Infrared Layer Thickness Meter: Physical Model

• Unité de recherche: INNOSUISSE
• Numéro de projet: 7996.1;4 NMPP-NM
• Titre du projet anglais: Contact-Less Infrared Layer Thickness Meter: Physical Model

Description succincte (Allemand)

Feasability: Infrarot-Schichtdickenmessgerät - Physikalisches Modell

Description succincte (Anglais)

Contact-Less Infrared Layer Thickness Meter: Physical Model

Résumé des résultats (Abstract) (Allemand)

In diesem Projekt wird ein physikalisches Modell entwickelt als Vorstudie für ein Schichtdickenmessgerät basierend auf Infrarot-Detektortechnologie. Das Schichtdickenmessgerät kann die Dicke mehrerer, übereinander liegenden dünnen opaken oder transparenten Schichten berührungslos messen und wird zur Produktionsüberwachung und zur Steuerung von Beschichtungsprozessen (Nasslackierung, Pulverbeschichtung, chemische Beschichtung, thermisch aufgebrachte Beschichtung) eingesetzt.