Contact-Less Infrared Layer Thickness Meter: Physical Model - Texts

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Research unit

INNOSUISSE

Project number

7996.1;4 NMPP-NM

Project title

Contact-Less Infrared Layer Thickness Meter: Physical Model

Texts for this project

	German	French	Italian	English
Short description		-	-
Abstract		-	-	-

Inserted texts

Category	Text
Short description (German)	Feasability: Infrarot-Schichtdickenmessgerät - Physikalisches Modell
Short description (English)	Contact-Less Infrared Layer Thickness Meter: Physical Model
Abstract (German)	In diesem Projekt wird ein physikalisches Modell entwickelt als Vorstudie für ein Schichtdickenmessgerät basierend auf Infrarot-Detektortechnologie. Das Schichtdickenmessgerät kann die Dicke mehrerer, übereinander liegenden dünnen opaken oder transparenten Schichten berührungslos messen und wird zur Produktionsüberwachung und zur Steuerung von Beschichtungsprozessen (Nasslackierung, Pulverbeschichtung, chemische Beschichtung, thermisch aufgebrachte Beschichtung) eingesetzt.