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Forschungsstelle
INNOSUISSE
Projektnummer
3166.1;5 KTS
Projekttitel
Wafer Level Stability Test of Hall Magnetic Sensors
Projektstatus Abgeschlossen
 
Startdatum 01.03.1996
Endedatum 06.04.2000
 
Gesamtkosten bewilligt 189'750.00  CHF
Bereich 5 KTI
Proj. Kategorie Projekt
Forschungsart Angewandte Forschung und Entwicklung
NABS-Klassifikation Industrielle Produktivität und Technologie
 
Fachbereiche
100 % Noch nicht erfasst
Letzte Änderung Projekt
27.11.2014