DAK-TL: Instrumentation System for Rapid, High-Precision Dielectric Characterization of Thin-Layer Materials

Unité de recherche

INNOSUISSE

Numéro de projet

13320.1;3 PFFLI-IW

Titre du projet

DAK-TL: Instrumentation System for Rapid, High-Precision Dielectric Characterization of Thin-Layer Materials

Titre du projet anglais

DAK-TL: Instrumentation System for Rapid, High-Precision Dielectric Characterization of Thin-Layer Materials

Etat du projet	Terminé

Date de début	01.01.2012
Date de fin	06.12.2013

Coûts totaux approuvés	611'844.00 CHF
Domaine	5 CTI
Catégorie de projet	Projet
Type de recherche	Recherche appliquée et développement
Code NABS	Recherches non ventilées / non attribuables

Disciplines/domaines	100 % T190 Electrotechnique

Dernière modification du projet 27.11.2014