UHV Low Temperature Scanning Force and Field Ion Microscopy with Ultrasmall Cantilevers

Unité de recherche

INNOSUISSE

Numéro de projet

7235.1;7 TNS-NM

Titre du projet

UHV Low Temperature Scanning Force and Field Ion Microscopy with Ultrasmall Cantilevers

Titre du projet anglais

UHV Low Temperature Scanning Force and Field Ion Microscopy with Ultrasmall Cantilevers

Etat du projet	Terminé

Date de début	01.09.2004
Date de fin	23.09.2009

Coûts totaux approuvés	370'000.00 CHF
Domaine	17 TOP NANO
Catégorie de projet	Projet
Type de recherche	Recherche appliquée et développement
Code NABS	Production et technologie industrielles

Disciplines/domaines	100 % T170 Electronique

Dernière modification du projet 27.11.2014