Novel reflective layer allowing a control of the quality of the microcrystalline solar cell in thin film Micromorph devices

Unité de recherche

INNOSUISSE

Numéro de projet

12614.1;11 PFIW-IW

Titre du projet

Novel reflective layer allowing a control of the quality of the microcrystalline solar cell in thin film Micromorph devices

Titre du projet anglais

Novel reflective layer allowing a control of the quality of the microcrystalline solar cell in thin film Micromorph devices

Participants
Office fédéral/ Unité administrative	Innosuisse Agence suisse pour l'encouragement de l'innovation Einsteinstrasse 2 CH-3003 Bern +41 58 461 61 61 (Central) info@innosuisse.ch www.innosuisse.ch/

Personne à contacter

Prof.
Herbert Keppner
Haute école ARC
17 Eplatures-grises
CH-2300 La Chaux-de-Fonds
032 930 13 64
herbert.keppner@he-arc.ch

Participants